核心参数
- 仪器种类:实验室
- 测定原理:其它
- 测定范围:0.01~5mg/L
- 测定准确度:±1%
- 检出限 :≤0.005mg/L
- 测定时间:30样品/小时
- 批处理量:不限
产品介绍
深圳市重投天科半导体有限公司为客户提供低缺陷密度高均匀性的4、6英寸n型4H-SiC外延晶片,其中外延层厚度为1μm至35μm,掺杂浓度为1E15—1E18 cm^(-3)。产品主要用于制造结势垒肖特基功率二极管(JBS)、金属氧化物半导体场效应晶体管(MOSFET)和结型场效应晶体管(JFET)。其应用领域包括白色家电等消费电子、电动汽车、轨道交通、国家电网、航空航天、军民融合和机载舰载电源等。
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深圳市重投天科半导体有限公司
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